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ASAP 2020 PLUS 全自動(dòng)靜態(tài)化學(xué)吸附儀用于測(cè)量粉末和多孔材料的表面積、孔徑和孔容，應(yīng)用范圍，使其兼具物理和化學(xué)吸附功能，可表征催化劑、催化劑載體、傳感器等和材料的紋理和活性表面，可同時(shí)制備兩個(gè)樣品、分析一個(gè)樣品，能夠提供高質(zhì)量的比表面 -
TriStar II 3030 全自動(dòng)比表面積與孔隙度分析儀能夠在碳微孔分析中同時(shí)利用CO2與N2兩個(gè)等溫線通過NLDFT理論來計(jì)算全范圍孔徑，直接處理吸附數(shù)據(jù)，通過簡(jiǎn)單的移動(dòng)計(jì)算條，用戶立即更新文本屬性，一鍵式訪問重要的參數(shù)，用戶可選數(shù)據(jù)范圍 -
TriStar II Puls 全自動(dòng)比表面積與孔隙度分析儀直接處理吸附數(shù)據(jù)，通過簡(jiǎn)單的移動(dòng)計(jì)算條，一鍵式訪問重要的參數(shù)，允許用戶自定義多達(dá)五份報(bào)告，可在屏幕上預(yù)覽，在一個(gè)易于使用的應(yīng)用程 -
Gemini VII 2390 全自動(dòng)快速比表面積與孔隙度分析儀采用的適應(yīng)速率給氣法，是一種靜態(tài)容量方法，是教學(xué)、科研、環(huán)境質(zhì)量控制的理想工具，簡(jiǎn)單易懂的安裝視頻和系統(tǒng)驗(yàn)證測(cè)試確保儀器性能和可靠性 -
Gemini VII 2390 比表面積分析儀具備了測(cè)量完整的吸附-脫附等溫線，以及使用多達(dá) 1000 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)通過 BJH 或 DH 法測(cè)量孔徑分布的功能，系統(tǒng)能夠在分析過程中持續(xù)監(jiān)測(cè)吸附劑的飽和壓力 -
TriStar II 3030 炭黑比表面積分析儀用于高精度的氣體管理，能夠在碳微孔分析中同時(shí)利用CO2與N2兩個(gè)等溫線通過NLDFT理論來計(jì)算全范圍孔徑，交互式數(shù)據(jù)處理減少使用對(duì)話框和達(dá)到計(jì)算參數(shù)的路徑
